中科光芯申请半导体激光器老化检测设备及方法专利,得到更准确的老化程度检测结果(中科光芯ipo) 99xcs.com

国家知识产权局信息显示,深圳市中科光芯半导体科技有限公司申请一项名为“一种半导体激光器的老化检测设备及检测方法”的专利,公开号CN121208572A,申请日期为2025年10月。

专利摘要显示,本发明涉及半导体激光器检测技术领域,具体涉及一种半导体激光器的老化检测设备及检测方法。该设备包括个体分析模块,用于分析半导体激光器的温度出现异常的次数以及温度出现波动的不稳定特性,确定温度变化异常性;整体分析模块,用于根据目标半导体激光器与其他半导体激光器之间的温度与温度变化异常性,确定温度变化差异度;初始确定模块,用于结合温度变化差异度、目标半导体激光器与其他半导体激光器之间的位置关系,确定半导体激光器的热耦合程度;老化确定模块,用于基于热耦合程度和检测数据,确定所述半导体激光器的综合老化程度。本发明减缓了不同半导体激光器之间的热耦合影响,得到了更准确的老化程度检测结果。

天眼查资料显示,深圳市中科光芯半导体科技有限公司,成立于2020年,位于深圳市,是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1504.43809万人民币。通过天眼查大数据分析,深圳市中科光芯半导体科技有限公司共对外投资了2家企业,参与招投标项目1次,财产线索方面有商标信息16条,专利信息65条,此外企业还拥有行政许可12个。

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