【东莞布雷斯特】日本 SANKO 三高 SWT-NEO-FN 膜厚仪
测量范围 铁基：0-3.00mm；非铁基：0-2.50mm
显示分辨率 0-400μm：0.1μm；400-500μm：0.5μm；0-999μm：1μm；1.00-3.00mm（铁基）/1.00-2.50mm（非铁基）：0.01mm
测量精度 0-100μm：±1μm 或 ±2%（铁 / 非铁）；101μm-3.00mm（铁基）/101μm-2.50mm（非铁基）：±2%
探头 1 点定压接触式，带 V 形切口，φ15×50.9mm
显示方式 LCD 数字显示，支持显示保持
电源 2 节 AA 碱性电池，连续使用约 25 小时，带自动关机
机身尺寸 72×30×156mm
重量 约 200g（含电池）
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